Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorCapar, Ogeday
dc.contributor.authorYıldırım, Mustafa
dc.contributor.authorÇınar, Hakan
dc.contributor.authorÖksüzoğlu, Ramis Mustafa
dc.date.accessioned2019-10-21T21:12:45Z
dc.date.available2019-10-21T21:12:45Z
dc.date.issued2009
dc.identifier.issn2053-2733
dc.identifier.urihttps://dx.doi.org/10.1107/S0108767309095671
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11421/21448
dc.descriptionWOS: 000480362900433en_US
dc.description.abstracten_US
dc.language.isoengen_US
dc.publisherInt Union Crystallographyen_US
dc.relation.isversionof10.1107/S0108767309095671en_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectX-Ray Reflectivityen_US
dc.subjectX-Ray Diffractionen_US
dc.subjectResistivityen_US
dc.titleInfluence of Deposition Technique on Growth and Resistivity of Ta/NiFe Nano Films.en_US
dc.typeconferenceObjecten_US
dc.relation.journalActa Crystallographica A-Foundation and Advancesen_US
dc.contributor.departmentAnadolu Üniversitesi, Mühendislik Fakültesi, Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Bölümüen_US
dc.identifier.volume65en_US
dc.identifier.startpageS208en_US
dc.identifier.endpageS208en_US
dc.relation.publicationcategoryKonferans Öğesi - Uluslararası - Kurum Öğretim Elemanıen_US
dc.contributor.institutionauthorÖksüzoğlu, Ramis Mustafa


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster