Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.advisorBarkana, Atalay
dc.contributor.authorKoç, Mehmet, [tarih]
dc.date.accessioned2015-10-27T15:04:30Z
dc.date.available2015-10-27T15:04:30Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.uri
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11421/4854
dc.descriptionTez (yüksek lisans) - Anadolu Üniversitesien_US
dc.descriptionAnadolu Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Elektrik-Elektronik Mühendisliği Anabilim Dalıen_US
dc.descriptionKayıt no: 676499en_US
dc.description.abstractBu tezde, örüntü tanımadaki üç konu olan öznitelik seçimi, her sınıftan tek örnek problem ve sınıfların sınıf-içi saçılım matrisi tahmini üzerine çalışılmıştır. Örüntü tanıma sisteminin başarımına etki eden önemli etkenlerden biri öznitelik vektörü boyutudur. Tanıma problemlerinde karşılaşılan yüksek boyut sorununun üstesinden gelmek için AOVY ile ilişkili bir öznitelik seçimi yöntemi önerilmiştir. Özniteliklerin önemli olanları tüm ortak vektörlerin görüntü uzayına izdüşüm matrisinin sütun normları ile belirlenir. Örüntü tanıma sistemlerini etkileyen diğer bir etken de eğitim örneklem büyüklüğüdür. Sınıf-içi saçılım matrisini kullanan klasik yöntemler her sınıftan bir örnek varsa başarısız olmaktadırlar, çünkü sınıf-içi saçılım matrislerinin hepsi sıfır olmaktadır. Tek örnek probleminin üstesinden gelmek için pivot yöntemi ile QR ayrıştırmasını (QRCP) kullanan bir resim ayrıştırma yöntemi önerilmiştir. Ayrıca AOVY yönteminin iki boyutlu bir genişletmesi önerilmiştir. Üçüncü önemli problem ise bir sınıfın sınıf-içi saçılım matrisinin tahmininin iyi yapılabilmesidir. Fakat yüksek boyutlu sınıflandırma problemlerinde her sınıf için yeterli sayıda örnek bulmak genellikle mümkün değildir. Bizim önerimizde, ilk olarak verilerin toplam sınıf-içi saçılım matrisinin görüntü uzayına izdüşümü alınır. Daha sonra bir sınıfın sınıf-içi saçılım matrisi sadece kendi verisi kullanılarak değil diğer sınıfların verileri de kullanılarak modellenir.en_US
dc.language.isoengen_US
dc.publisherAnadolu Üniversitesien_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectÖrüntü tanıma sistemlerien_US
dc.subjectYüz tanıma (Bilgisayar bilimi)en_US
dc.titleNew subspace approaches in pattern recognitionen_US
dc.typemasterThesisen_US
dc.contributor.departmentFen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.identifier.startpageXII, 80 y. + 1 CD-ROM.en_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US


Bu öğenin dosyaları:

Thumbnail

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster