Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.advisorZor, Muhsin
dc.contributor.authorBal, Hakan
dc.date.accessioned2007-04-02T11:21:55Z
dc.date.available2007-04-02T11:21:55Z
dc.date.issued2006
dc.identifier.uri
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11421/5102
dc.descriptionTez (yüksek lisans) - Anadolu Üniversitesien_US
dc.descriptionAnadolu Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalıen_US
dc.descriptionKayıt no: 353074en_US
dc.description.abstractBu çalışmada, In2O3 yarıiletken filmleri püskürtme yöntemiyle, 350°C, 380°C ve 425°C taban sıcaklıklarında ve cam tabanlar üzerinde elde edilmiştir. Elde edilen filmlerin X-ışınları kırınım desenlerinden filmlerin kristal yapısının polikristal oldukları ve kübik yapıda oluştukları belirlenmiştir. Filmlerin absorpsiyon spektrumlarından yasak enerji aralıklarının 3,71eV ve 3,74eV aralığında değiştiği ve direkt bant geçişli oldukları görülmüştür. Filmler n-tipi elektriksel iletim özelliği göstermiştir. Elde edilen In203 filmlerin, oda sıcaklığında ve karanlık ortamda akım-voltaj ölçümleri alınmış ve filmlerin ohmik iletim mekanizmasına sahip oldukları belirlenmiştir. Yapılan ölçümlerden filmlerin özdirenç değerleri hesaplanmıştır. Hesaplanan özdirenç değerleri 1,54x10-3 ile 4,86x10-3 ohm.cm arasında değişmektedir.en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherAnadolu Üniversitesien_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectBileşik yarıiletkenleren_US
dc.subjectSpray Pyrolysisen_US
dc.subjectYarıiletkenleren_US
dc.titlePüskürtme yöntemiyle elde edilen In2O3'ün elektriksel özelliklerien_US
dc.typemasterThesisen_US
dc.contributor.departmentFen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.identifier.startpageXI, 78 y. : resim + 1 CD-ROM.en_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US


Bu öğenin dosyaları:

Thumbnail

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster