Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorAksay, Sabiha
dc.date.accessioned2019-10-20T09:31:12Z
dc.date.available2019-10-20T09:31:12Z
dc.date.issued2001
dc.identifier.issn1300-8692
dc.identifier.urihttp://www.trdizin.gov.tr/publication/paper/detail/TXpJNE1EYzM=
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11421/17626
dc.description.abstractBu araştırmada, spray pyrolysis yöntemiyle farklı taban sıcaklıklarında elde edilen CuInS2 yarıiletken bileşiğinin x-ışını kırınım desenlerinden, kristal yapısı hakkında bilgi edinilmiştir.en_US
dc.description.abstractIn this study,the crystal structure of CuInS2 compound semiconductor films produced by means of the spray pyrolysis method at various substrate temperatures has been investigated by x-ray diffraction pattern.en_US
dc.language.isoturen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectOrtak Disiplinleren_US
dc.titleCuInS2 yarıiletken filminin X-ışını kırınım desenlerien_US
dc.title.alternativeThe X-ray diffraction patterns of CuInS2 semiconductor filmsen_US
dc.typeotheren_US
dc.relation.journalAnadolu Üniversitesi Fen Fakültesi Dergisien_US
dc.contributor.departmentAnadolu Üniversitesi, Fen Fakültesi, Fizik Bölümüen_US
dc.identifier.issue6en_US
dc.identifier.startpage117en_US
dc.identifier.endpage123en_US
dc.relation.publicationcategoryDiğeren_US
dc.contributor.institutionauthorAksay, Sabiha


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster