Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorPulfer, Kurt
dc.contributor.authorDüggelin, Marcel
dc.contributor.authorMathys, Daniel
dc.contributor.authorMorson, Gianni
dc.contributor.authorDürrenberger, Markus
dc.date.accessioned2015-03-10T13:40:18Z
dc.date.available2015-03-10T13:40:18Z
dc.date.issued2009
dc.identifier.issn13023160
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11421/1662
dc.description.abstractDuring the last 10 years development of SEM with cold field emission guns working with low acceleration voltage lead to a substantial increase in resolving power. In addition the suppliers started to combine such SEM columns with focused ion beam columns (FIB). This dual column SEM / FIB allowed to do experimental work in the preparation chamber, such as cutting and repairing experimental electronics and excision of ultra thin sections for TEM. Also new in the field of SEM is the block face tomography. The simplest form is to integrate an ultra microtome into a SEM. More versatile is to apply a dual beam SEM/FIB in the way that the FIB cuts sections off and the SEM is imaging the block face. This can be done either at room temperature on plastic or at cryo temperature on ice. Environmental Scanning Electron Microscopy (ESEM) is known since at least 10 years. Unfortunately the applications for biology and medical purpose have made poor advances. Modifications in design of the instrument or preparation methods are needed to further develop ESEM technology.en_US
dc.description.abstractSon 10 yıldaki gelişmelerle, düşük ivmelenme voltajlı, Soğuk Alan Emisyonlu SEM kolonları, ayırma kuvvetinde önemli artışlara sebep olmuştur. Buna ek olarak, üreticilerde, hazırlama çemberinde, kesme ve elektronik parçaların tamiri, TEM için ultra ince kesitlerin hazırlanması gibi deneysel çalışmalara olanak sağlayan SEM / FIB bileşimlerine başlamışlardır. SEM alanındaki bir diğer yenilik ise blok yüz tomografisidir. En basit şekli SEM içerisine ultra mikrotom yerleştirmektir. Daha ileri düzeyi, çift demetli SEM / FIB kombinasyonunda benzer şekilde, FIB ile dilimleyip, SEM ile yüzey bloklarının görüntülenmesidir. Bu çalışma, plastikte oda sıcaklığında, buzda ise sıfırın altında uygulanabilir. Atmosferik Taramalı Elektron Mikroskobu (ESEM) son on yıldan beri bilinmektedir. Ne yazık ki biyoloji ve ilaç uygulamalarındaki gelişmeler oldukça kısıtlıdır. ESEM teknolojisinde, cihaz dizaynındaki modifikasyonlar veya hazırlama metotlarında daha ileri gelişmelerle ihtiyaç vardır.en_US
dc.language.isoengen_US
dc.publisherAnadolu Üniversitesien_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectScanning Electron Microscopyen_US
dc.subjectEnergy Dispersive X-Ray Analysisen_US
dc.subjectEnvironmental Scanning Electron Microscopyen_US
dc.subjectLow Vacuum Scanning Electron Microscopyen_US
dc.subjectDual Beam SEM / FIBen_US
dc.subject3-D Blockface Imagingen_US
dc.subjectScanning Electron Microscopyen_US
dc.subjectEnergy Dispersive X-ray Analysisen_US
dc.subjectEnvironmental Scanning Electron Microscopyen_US
dc.subjectLow Vacuum Scanning Electron Microscopyen_US
dc.subjectDual Beam SEM / FIBen_US
dc.subject3-D Blockface Imagingen_US
dc.titlePossibilities on Latest Generation Scanning Electron Microscopes (SEM)en_US
dc.title.alternativeSon Nesil Taramalı Elektron Mikroskoplarındaki (SEM) İmkanlaren_US
dc.typearticleen_US
dc.relation.journalAnadolu Üniversitesi Bilim ve Teknoloji Dergisi A - Uygulamalı Bilimler ve Mühendisliken_US
dc.relation.publicationcategoryMakale - Ulusal Hakemli Dergi - Kategorisizen_US


Bu öğenin dosyaları:

Thumbnail

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster