Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.advisorAybek, Ahmet Şenol
dc.contributor.authorDemirci, Yasin
dc.date.accessioned2015-10-27T14:15:23Z
dc.date.available2015-10-27T14:15:23Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.uri
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11421/5158
dc.descriptionTez (yüksek lisans) - Anadolu Üniversitesien_US
dc.descriptionAnadolu Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalıen_US
dc.descriptionKayıt no: 85271en_US
dc.description.abstractBu çalışmada, CuO yarıiletken filmleri cam alt tabanlar üzerine döndürerek kaplama yöntemi ile elde edilmiştir. Farklı sıcaklıkta tavlanan filmlerin x-ışını kırım desenlerinden polikristal tenorit yapıda oldukları saptanmıştır. CuO filmlerin kalınlık değerleri elipsometre yardımı ile 0,65 ?m olarak belirlenmiştir. Absorpsiyon spektrumu ölçümlerinden filmlerin direkt bant aralığına sahip ve yasak enerji aralıklarının 1,62 eV ile 1,69 eV arasında değiştiği belirlenmiştir.en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherAnadolu Üniversitesien_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectİnce filmler -- Optik özellikleren_US
dc.subjectYarıiletkenler -- Optik özellikleren_US
dc.titleDöndürerek kaplama yöntemi ile CuO yarıiletken filmlerinin elde edilmesi, optik ve yapısal özelliklerinin incelenmesien_US
dc.typemasterThesisen_US
dc.contributor.departmentFen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.identifier.startpageXII, 63 y. : resim + 1 CD-ROM.en_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US


Bu öğenin dosyaları:

Thumbnail

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster