Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.advisorTuran, Servet
dc.contributor.authorTunçkan, Orkun
dc.date.accessioned2010-12-07T15:25:47Z
dc.date.available2010-12-07T15:25:47Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.uri
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11421/6348
dc.descriptionTez (doktora) - Anadolu Üniversitesien_US
dc.descriptionAnadolu Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Seramik Mühendisliği Anabilim Dalıen_US
dc.descriptionKayıt no: 181726en_US
dc.description.abstractBu tez çalışması ile kapasitör deşarj tekniği kullanılarak seramik ve metallerin kaynaklanması ve aralarında gerçekleşen reaksiyonların ve reaksiyon ürünleri kompozisyonlarının belirlenmesi amaçlanmıştır. Seramik malzeme olarak Si?N?, TiCN kaplı Si?N?, SiA1ON ve PZT malzemeler, aratabaka olarak ise, Ti, süperalaşım ve Ag kullanılmıştır. Kapasitör deşarj tekniği ile kaynaklama işleminden sonra, havada çeşitli sıcaklıklarda ısıl işleme tabi tutulan numuneler, taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve geçirimli elektron mikroskobu (TEM) incelemeleri için hazırlanmışlardır. Kaynaklanan ve ısıl işleme tabi tutulan numuneler sonradan, çeşitli SEM ve TEM teknikleri ile incelenmişlerdir. Analitik TEM teknikleri, N ve Si'un arayüzeye doğru şiddetli difüzyonunu ve Ti atomlarıyla etkileştiğini göstermektedir. Isıl işleme tabi tutulmayan Si?N?-Ti numunesinde, Ti?N? reaksiyon tabakası ve Ti?N fazı, Ti aratabakada oluşmuştur. Isıl işleme tabi tutulan numunede ise Ti?N? reaksiyon tabakası ve Ti?N fazı yerine dentritik Ti?N fazının oluştuğu gözlenmiştir. Ayrıca ısıl işleme tabi tutulmayan ve ısıl işleme tabi tutulmuş numunelerin aratabakalarında sırasıyla, Ti3N ve Ti2N fazlarını çevreleyen Ti?Si?Nx fazı tespit edilmiştir. Si?N?-Süperalaşım numunesinde ise benzer şekilde, N ve Si'un arayüzeye difüzyonunun gerçekleştiği ve aratabakada özellikle Ni, Cr ve Fe atomları ile etkileştiği belirlenmiştir. Ayrıca MT-DATA programı ile bu sonuçlar desteklenmiştir.en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherAnadolu Üniversitesien_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectSeramik metal bağlamaen_US
dc.subjectYayınım bağlama (Metaller)en_US
dc.subjectSeramik malzemeleren_US
dc.subjectSeramik -- Yüzeyleren_US
dc.titleKapasitör deşarj tekniği ile seramiklerin kaynaklanması ve metal seramik arayüzey reaksiyonlarının belirlenmesien_US
dc.typedoctoralThesisen_US
dc.contributor.departmentFen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.identifier.startpageXIX, 176 y. : resim + 1 CD-ROM.en_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US


Bu öğenin dosyaları:

Thumbnail

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster